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Groupe d'Etude de la Matière Condensée (GEMaC), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines - CNRS

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GEMAC > Moyens expérimentaux > Diffraction des Rayons X

Diffraction des Rayons X



Le GEMaC possède deux diffractomètres de rayons X :

Un diffractomètre Bruker Nonius FR590 haute résolution (~10 arcsec), dédié à l’étude de monocristaux ou des couches minces.

Il est constitué :

- d’un goniomètre qui présente 5 axes de rotation (x, y, , 2, ) et un axe de translation z,
- d’une source classique de rayons X (anode de Cu  =1.54 Å) qui génère un faisceau de RX monochromaté à l’aide d’un monochromateur en germanium et d’une fente d’entrée,
- d’un détecteur (photomultiplicateur à scintillation).

Contact : Gaëlle Amiri/ Pierre Galtier

Un diffractomètre Philips PW1730 dédié à l’étude de matériaux polycristallins qui permet à la fois un balayage global en (/2) du spectre et l’étude du profil de raies particulières en fixant la position angulaire du détecteur en 2. Il est constitué d’un goniomètre, d’une source de rayons X (anode de Cu) et d’un détecteur.

 
Contact : Gaëlle Amiri

Dernière mise à jour de cette page : 27 octobre 2017


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