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Groupe d'Etude de la Matière Condensée (GEMaC), Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines - CNRS

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GEMAC > Moyens expérimentaux > Microscopies

Microscopie à Force Atomique

La microscopie à Force Atomique est basée sur la détection des forces d'interactions entre une pointe et la surface d'un échantillon conducteur ou isolant. Le déplacement de la pointe au dessus de l'échantillon (latéral et vertical) est assuré par un tube piezo-électrique. En mode contact, une boucle d'asservissement maintient constant la déflection du levier pendant le balayage. En mode tapping (contact intermittent), le levier oscille à sa fréquence de résonnance et la boucle d'asservissement maintient l'amplitude constante.

Notre AFM (Dimension 3100 (Bruker AXS)) est composé d’une électronique IIIA et du système Quadrex. Il est installé sur table antivibratoire dans un caisson d’isolation.

Des mesures de la distribution des gradients électriques et magnétiques (EFM et MFM) sont réalisables ainsi qu’une caractérisation électrique (module C-AFM) sur des échantillons peu conducteurs (gamme de courant de 2pA à 1 µA).
La manipulation de nano-objet (indentation, oxydation locale anodique, etc) est facilitée par le logiciel de Nanolithography.


 
Nanolithographie par pointe AFM de SrTiO3-x
Cet appareil offre des applications dans les divers domaines (physique, chimie, biologie). C’est un outil de caractérisation de l’état de surface (rugosité) mais également de mesures métrologiques à l’échelle nanométriques et de manipulation de nano-objets.
 
Le microscope à force atomique est ouvert à toutes les équipes de recherche du GEMaC et de l’ILV. Des prestations pour des laboratoires extérieurs et industriels sont réalisables, nous contacter.
Contact : Bruno BERINI

Prestations offertes
Formation à l’utilisation du microscope (mode contact et tapping, EFM, MFM)
TP initiation à la microscopie de champ proche, écritures nanométriques et caractérisations de nano-objets magnétiques

Dernière mise à jour de cette page : 20 mai 2015


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