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Diffraction de rayons X

Le GEMaC possède trois diffractomètres, équipés d’une anticathode de cuivre, permettent la caractérisation structurale par diffraction des rayons X de composés cristallisés qu’ils se présentent sous forme de poudres, d’échantillons massifs, de monocristaux ou encore de films minces déposés sur un substrat.

Diffractomètre poudre Siemens D5000

- goniomètre à deux cercles (montage θ-θ)
- tube scellé Cuivre (λ =1.54 Å)
- monochromateur arrière graphite
- scintillateur

Diffractomètre Bruker Nonius FR590

Haute résolution (~10 arcsec), dédié à l’étude de monocristaux ou des couches minces.
Il est constitué :
- d’un goniomètre qui présente 5 axes de rotation (θx, θy, ω, 2θ, φ) et un axe de translation z,
- d’une source classique de rayons X (anode de Cu λ =1.54 Å) qui génère un faisceau de RX monochromaté à l’aide d’un monochromateur en germanium et d’une fente d’entrée,
- d’un détecteur (photomultiplicateur à scintillation).





Diffractomètre Seifert XRD3000

Cet équipement est doté d’une source de cuivre, d’un goniomètre 4 cercles : L'échantillon, ajustable dans les trois directions de l’espace, est posé verticalement sur une surface plane solidaire d'une platine disposant de mouvements de rotation motorisés autour des axes ω, 2θ, φ et χ , de plusieurs optiques : miroir de Göbel, monochromateurs avant (2 ou 4 cristaux Ge (220)), absorbeurs, fentes de Soller, possibilité d’analyseur arrière (2 cristaux Ge (220)) et d’un détecteur constitué d’un compteur à scintillation NaI. Les différentes applications possibles sont l’acquisition de cartographie dans l’espace réciproque et l’étude des propriétés cristallographiques par diffraction en géométrie θ/2θ, ainsi que l’étude de monocristaux en haute résolution et rocking curve.