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Transport électronique

“4-pointes en ligne” pour mesures de résistivité


Technique non-destructive pour mesurer la résistivité à température ambiante.
2 têtes : 0.5 mm et 2 mm de distance entre les pointes en WC, tables XY


Plateforme de tests I-V et C-V


Un « système de caractérisation des propriétés semiconductrices » Keithley 4200 équipé de 5 sondes (commutables en source ou mesure) permet :
  • Les mesures de caractéristiques I-V, ainsi que les mesures de résistivité « 2 et 4 points » à la température ambiante. Les courants vont du femtoAmpère à l’Ampère et les tensions du nanoVolt à 200 V.
  • Mesures de capacitance en fonction de la tension (C-V) dans la gamme du l’attoFarad (aF) au nanoFarad (nF) aux fréquences comprises entre 10 kHz et 10 MHz. Equipé de 2 sondes type Kelvin.
  • En général, tout test électrique sur composant, programmable avec un langage constructeur type « Labview »


Mesures de resistivité et d'effet Hall


Nous avons construit deux équipements de « mesures de résistivité et d’effet Hall » dans la configuration de Van der Pauw.

Le premier équipement est dévolu aux mesures à température ambiante dans la gamme d’impédance moyenne (1e+8 Ohm) d’échantillon sous un champ magnétique de 0.8 T.

Le second équipement « Haute Impédance – Haute température » (1e+10 Ohm) est équipé avec un électroaimant de 1.6 T et régulation en température entre 80 K et 880 K.

Ces appareils nous permettent d’étudier de nombreux semiconducteurs et oxydes depuis leurs états fortement conducteur à celui semi-isolant.
 



4 pointes
“4-pointes en ligne”





capacitance







effet Hall 1

1er
équipement de mesures de résistivité et d’effet Hall

Effet Hall 2

2e équipement de mesures de résistivité et d’effet Hall